紫外電暈探測(cè)
一、 什么是電暈放電?
電暈放電(corona discharge)是由圍繞在高電壓導(dǎo)體周圍的流體電離造成的放電,此處最常見的流體就是空氣,此放電因在黑暗中狀似月暈而得名。
電暈放電時(shí),在沿著導(dǎo)線或電極的表面可以看到光層(電暈),伴有咝咝聲,并產(chǎn)生臭氧、氧化氮等。非導(dǎo)電介質(zhì)也有此現(xiàn)象,此因在高電壓下電場(chǎng)強(qiáng)度過大,導(dǎo)致非導(dǎo)電介質(zhì)被擊穿,絕緣體的電阻迅速下降,繼而使得一部分絕緣體變?yōu)閷?dǎo)體,而形成放電現(xiàn)象,常發(fā)生在高壓電線周圍或帶電體的尖端附近(尖端放電)。
電暈放電
二、電暈放電的危害
電暈現(xiàn)象就是帶電體表面在氣體或液體介質(zhì)中局部放電的現(xiàn)象,常發(fā)生在不均勻電場(chǎng)中電場(chǎng)強(qiáng)度很高的區(qū)域內(nèi)(例如高壓導(dǎo)線的周圍,帶電體的尖端附近)。其特點(diǎn)為:出現(xiàn)與日暈相似的光層,發(fā)出嗤嗤的聲音,產(chǎn)生臭氧、氧化氮等。
均勻電場(chǎng)中,由于各點(diǎn)電場(chǎng)強(qiáng)度都是一樣的,當(dāng)施加穩(wěn)態(tài)電壓(直流、工頻交流),電場(chǎng)強(qiáng)度達(dá)到空氣的擊穿強(qiáng)度時(shí),間隙就擊穿了。但日常很難見到均勻電場(chǎng)。對(duì)于稍不均勻的電場(chǎng),日常見得很多。如球-球間隙,球-板間隙等,以球-球間隙為例,當(dāng)間隙距離小于1/4D時(shí),其電場(chǎng)基本為均勻電場(chǎng),當(dāng) D/4 ≤S≤ D/2 時(shí),其電場(chǎng)為稍不均勻電場(chǎng)。
均勻電場(chǎng)的放電電壓也可用公式計(jì)算,公式為(單位為kV):
24.44δs+6.08
δ—空氣相對(duì)密度;
s—間隙距離cm;
不均勻電場(chǎng)的差別就在于空氣間隙內(nèi),各點(diǎn)的電場(chǎng)強(qiáng)度不均勻,在電力線比較集中的電極附近,電場(chǎng)強(qiáng)度最大,而電力線疏的地方,電場(chǎng)強(qiáng)度很小,如棒-棒間隙,是一對(duì)稱的不均勻電場(chǎng),在電極的尖端處電力線最集中,電場(chǎng)強(qiáng)度也最大。
當(dāng)加上高壓后,會(huì)在電極附近產(chǎn)生空氣的局部放電——電暈放電,電壓再加高時(shí),電暈放電更加強(qiáng)烈,致使間隙內(nèi)發(fā)生刷狀放電,而后就擊穿了(電弧放電)。如棒-板間隙,在尖電極附近電場(chǎng)強(qiáng)度最大,加上高壓后,電極附近先產(chǎn)生電暈放電,而板上的電力線很疏,不會(huì)產(chǎn)生電暈。
當(dāng)電壓足夠高時(shí),棒極也將產(chǎn)生刷狀、火花放電,最后導(dǎo)致電弧放電(擊穿)。電暈多發(fā)生在導(dǎo)體殼的曲率半徑小的地方,因?yàn)檫@些地方,特別是尖端,其電荷密度很大。而在緊鄰帶電表面處,電場(chǎng)E與電荷密度σ成正比,故在導(dǎo)體的尖端處場(chǎng)強(qiáng)很強(qiáng)(即σ和E都極大)。
因此,在空氣周圍的導(dǎo)體電勢(shì)升高時(shí),這些尖端之處能產(chǎn)生電暈放電。
通常均將空氣視為非導(dǎo)體,但空氣中含有少數(shù)由宇宙線照射而產(chǎn)生的離子,帶正電的導(dǎo)體會(huì)吸引周圍空氣中的負(fù)離子而自行徐徐中和。若帶電導(dǎo)體有尖端,該處附近空氣中的電場(chǎng)強(qiáng)度E可變得很高。當(dāng)離子被吸向?qū)w時(shí)將獲得很大的加速度,這些離子與空氣碰撞時(shí),將會(huì)產(chǎn)生大量的離子,使空氣變成極易導(dǎo)電,同時(shí)借電暈放電而加速導(dǎo)體放電。因空氣分子在碰撞時(shí)會(huì)發(fā)光,故電暈時(shí)在導(dǎo)體尖端處可見亮光。
因此,電暈有許多不利影響:
1、 輸電線路上的電能損失;
2、 射頻(RF)產(chǎn)生的噪聲會(huì)干擾消費(fèi)和工業(yè)電子產(chǎn)品;
3、 產(chǎn)生的臭氧和氮氧化物氣體的對(duì)生活在輸電線路附近的人們有不利影響;
4、 對(duì)線路、變壓器或絕緣體的損壞會(huì)加劇問題的產(chǎn)生,導(dǎo)致更多的功率損失和可能發(fā)生的電弧狀況;
5、 產(chǎn)生的紫外線還會(huì)對(duì)某些動(dòng)物造成困擾。
如果輸電線路系統(tǒng)的組件正在經(jīng)歷電暈而問題沒有得到解決,則由此產(chǎn)生的損壞可能導(dǎo)致附近導(dǎo)體放電或電弧。電弧會(huì)對(duì)輸電系統(tǒng)造成重大損害,并導(dǎo)致過熱,從而導(dǎo)致潛在的故障。電暈放電可以通過改善絕緣性、使用電暈環(huán),以及采用圓滑的導(dǎo)線截面并設(shè)計(jì)足夠大的截面面積來避免。
三、幾種用于探測(cè)和減少電暈影響的技術(shù)
1、聲學(xué)傳感器和射頻傳感器可以探測(cè)到電暈產(chǎn)生的噪聲,但電暈的精確定位是困難的。
2、熱圖像可以用來定位傳輸線或變壓器上的“熱點(diǎn)”,但是當(dāng)熱成像儀發(fā)現(xiàn)問題時(shí),電弧已經(jīng)對(duì)其造成了嚴(yán)重?fù)p壞。
3、探測(cè)和定位電暈的可靠和精確的方法是使用紫外線(UV)成像,它可以探測(cè)到與電暈事件區(qū)域內(nèi),電子和離子重組相關(guān)的極低水平的深紫外線。
雖然在這個(gè)過程中也產(chǎn)生了可見光,但由太陽(yáng)產(chǎn)生的環(huán)境可見光量比電暈產(chǎn)生的可見光量大好幾個(gè)數(shù)量級(jí)。波長(zhǎng)小于300nm的太陽(yáng)光,即深紫外線,被地球的臭氧層吸收。非常敏感的日盲圖像增強(qiáng)器只對(duì)這種較深的紫外光敏感,并且可以在全白天工作,同時(shí)仍能探測(cè)和定位微弱的紫外線電暈輻射。
四、探測(cè)方案
典型的紫外電暈成像儀如圖1所示。紫外成像系統(tǒng)包括紫外線鏡頭、日盲圖像增強(qiáng)器、CMOS相機(jī)與像增強(qiáng)器耦合器件,以及圖像處理電子學(xué)設(shè)備。
可見光成像光路常與紫外光路部分共用。可見光成像系統(tǒng)包括可見光透鏡、CMOS或CCD可見光相機(jī),以及圖像處理電子設(shè)備等組成。可見和紫外圖像在一個(gè)整體視頻中顯示,允許檢查員在視野中檢測(cè)電暈,并通過現(xiàn)場(chǎng)與顯示圖像的比較來確定其精確位置。一些成像系統(tǒng)可以包括一個(gè)熱成像儀,它可以幫助確定損傷的嚴(yán)重程度。
圖Ⅰ 典型的紫外電冕成像系統(tǒng)配置
五、 相關(guān)產(chǎn)品
1、 MCP像增強(qiáng)器:英國(guó)Photek 是一家專業(yè)生產(chǎn)像增強(qiáng)器、超快 PMT、條紋相機(jī)管、真空粒子探測(cè)器以及單光子計(jì)數(shù)相機(jī)系統(tǒng)的廠家。其像增強(qiáng)器最大口徑可達(dá)150mm,最多可做到 3級(jí)MCP 連用。
像增強(qiáng)器結(jié)構(gòu)圖
主要特點(diǎn):
> 口徑:18、25、40、75、150mm可選,并接受其他尺寸的批量定制
> 波長(zhǎng)覆蓋紫外、日盲、可見和近紅外
> 單、雙、三層MCP可選,以滿足不同增益需求(三層增益超百萬倍)
> 強(qiáng)磁場(chǎng)環(huán)境下特殊封裝可選
> 磁聚焦器可選
> 不同縮比可選
> 最短門寬可達(dá)200ps
> 主要應(yīng)用:電暈探測(cè)、紫外預(yù)警、弱光探測(cè)、微光夜視、時(shí)間分辨測(cè)試、條紋相機(jī)、分幅相機(jī)
陰極響應(yīng)曲線 入射窗透過率曲線
2、 單光子成像相機(jī):Photek 生產(chǎn)的光子計(jì)數(shù)相機(jī)基于多 MCP 的高度增益而設(shè)計(jì)的,其消除了由于 CCD 等設(shè)備帶來的模擬噪聲,噪聲可以低至 2cps/cm2,是極其微弱信號(hào)的好選擇,同時(shí)配有 IFS32 分析軟件,可以實(shí)現(xiàn)兩種類型的光子計(jì)數(shù)成像方式和多區(qū)域信號(hào)分析。
3、相機(jī):先鋒科技提供多種相機(jī)方案,包括世界著名的英國(guó)Andor公司的科學(xué)級(jí)CCD和sCMOS相機(jī)、日本ArtRay和加拿大Lumenera公司生產(chǎn)的工業(yè)級(jí)相機(jī)。
英國(guó)Andor的iKon系列CCD相機(jī)參數(shù):
日本ArtRay的USB3.0 CMOS相機(jī)參數(shù):
加拿大Lumenera公司的INFINITY系列高性能相機(jī)參數(shù):