膜厚測量儀是用來測量材料及物體厚度的儀表。在工業(yè)生產(chǎn)中常用來連續(xù)或抽樣測量產(chǎn)品的厚度（如鋼板、鋼帶、薄膜、紙張、金屬箔片等材料）。它基于薄膜干涉，這是一種物理現(xiàn)象：薄膜上下表面反射的光波會相互干擾，產(chǎn)生光的干涉現(xiàn)象，進而增強或減弱反射光。當膜的厚度是其反射光的1/4波長的奇數(shù)倍時，來自兩個表面的反射光會相互抵消，因此光不會被反射，全部透射過去了。當厚度是光的1/2波長的倍數(shù)時，兩個反射波會互相增強，從而增加反射并降低透射。因此，當由一組波長組成的白光入射到薄膜上時，某些波長（顏色）的光被增強，而其他波長則被減弱。