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在托卡馬克裝置中，X射線晶體光譜儀通過測量等離子體雜質(zhì)譜線的多普勒頻移與多普勒展寬來測量離子溫度和旋轉(zhuǎn)速度，尤其適合純射頻波加熱下等離子體溫度的測量，是托卡馬克裝置中的重要物理診斷之一。